中國電子元件行業(yè)協(xié)會
China Electronic Components Association
2025年2月28日，由中國電子元件行業(yè)協(xié)會電容器分會主辦、廣東風(fēng)華高新科技股份有限公司承辦的《多層陶瓷電容器（MLCC）電性能老化測試》系列團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)工作會議在風(fēng)華高科研究院（廣州分院）成功舉行。參與標(biāo)準(zhǔn)編寫的企業(yè)及電容器分會其他擬組織標(biāo)準(zhǔn)立項企業(yè)的30余位行業(yè)專家、企業(yè)代表及相關(guān)技術(shù)人員參加了本次會議。
會議由中國電子元件行業(yè)協(xié)會電容器分會秘書長冉洪汀主持。會議伊始，風(fēng)華高科研究院院長付振曉代表牽頭單位致辭。接著，中國電子元件行業(yè)協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)管理部章怡主任宣貫了國家有關(guān)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)的政策及新修訂的《中國電子元件行業(yè)協(xié)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)制修訂工作程序》。
隨后，風(fēng)華高科孫鵬飛工程師匯報了《多層陶瓷電容器（MLCC）電性能老化測試 第1部分：直流老化（DC-Aging）測試》和《多層陶瓷電容器（MLCC）電性能老化測試 第2部分：長周期高溫絕緣電阻（Hot IR）測試》兩項團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)的聯(lián)合驗證試驗的目的、樣品準(zhǔn)備、儀器的要求及驗證試驗的進(jìn)度，對已發(fā)現(xiàn)的影響測量準(zhǔn)確性的因素做了分析并提出改進(jìn)措施。
接著，工作組對上述兩項標(biāo)準(zhǔn)的工作組討論稿進(jìn)行逐條討論，提出修改建議，并就介質(zhì)種類的引用來源、測試條件的優(yōu)化等問題展開了深入討論。
會議要求，標(biāo)準(zhǔn)編制組繼續(xù)完善試驗大綱，精心組織和協(xié)調(diào)驗證試驗進(jìn)度。對于試驗期間出現(xiàn)的數(shù)據(jù)異常要及時發(fā)現(xiàn)，找準(zhǔn)原因，提出糾正方法，按預(yù)定時間節(jié)點完成全部試驗。同時，編制組要落實本次會議提出的修改意見，盡快完成征求意見稿及編制說明。
以上兩項團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)均是為了滿足用戶對多層陶瓷電容器可靠性評估的需求而立項。目前國標(biāo)和行標(biāo)沒有相應(yīng)的測量方法標(biāo)準(zhǔn)，導(dǎo)致不同廠商在測試細(xì)節(jié)方面有差異。工作組組織了5家廠商使用有代表性的且不同來源的樣品規(guī)格，進(jìn)行聯(lián)合驗證試驗，以確保驗證試驗程序及測試步驟的準(zhǔn)確性和可操作性。
本次會議是繼去年團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)組織綜合績效考評自評后，電容器分會組織的第一次標(biāo)準(zhǔn)會議 。通過本次會議的政策和程序的宣貫，以及驗證試驗的經(jīng)驗分享，既為二項標(biāo)準(zhǔn)文本的科學(xué)性和可操作性提供依據(jù)，也為后續(xù)申請立項的企業(yè)提供有益借鑒。
